產品中心
Product Center致茂Chroma POGO BT 4000 測試儀 筆記本/手持式系統的LCD耐久性 : 模擬一個產品的面板元件非常態的受力 按鍵的壽命測試 : 模擬在產品的生命周期內按鍵的耐久度 機構密合度 : 模擬產品結構上的耐久度 產品緩沖 : 模擬重復摩擦塑膠材質或觸控式面板
Chroma Multi-Hinge Tester 多組開合測試儀 針對筆記型電腦的轉軸測試 待測物數量可架設10組Hinge 可擴充同時測試15組Hinge
致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 開合測試儀 高效能,全自動的扭轉開合測試機 高速、準確及適用性能符合許多測試規范 主要為筆記型電腦及其他使用時會承受重復性扭轉的產品 模仿操作者每日正常使用產品時影響的機械結構動作
致茂Chroma MFM 3000 磁場電場測試儀 符合所有現行的tco低頻磁場輻射測試標準(MFM 2000) 可載入icniRP、en 50366、iec 62233等規范(選購),并適用于其他由icniRP衍生的低頻磁場輻射測試規范(5Hz~400 Khz)(MFM 3000) 全自動權范圍測量,并可同時量測雙頻帶(VLF/ELF)(MFM 2000)頻帶I(5Hz~2 kHz):10
致茂Chroma MFM 2000 磁場電場測試儀 符合所有現行的TCO低頻磁場輻射測試標準(MFM2000) 可載入ICNIRP、EN 50366、IEC 62233等規范(選購),并適用于其他由ICNIRP衍生的低頻磁場輻射測試規范(5Hz~400kHz) (MFM 3000) 全自動權范圍測量,并可同時量測雙頻帶(VLF/ELF) (MFM2000) 頻帶I(5Hz~2kHz):10n