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致茂Chroma 3110-FT 三溫測試分類機可設(shè)定溫度范圍 -40℃~125℃適用于 FT測試支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到 45x45 mm控制下壓觸力在1到10 kg (Optional)具有4個產(chǎn)品分類料盤支援遠(yuǎn)端控制操作
product
產(chǎn)品分類品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
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致茂Chroma 3110-FT 三溫測試分類機
主要特色:
Chroma 3110-FT為一臺適用于IC終端測試(Final Test)工程產(chǎn)品特性及測試開發(fā)用途之測試分類設(shè)備。
3110-FT支持多種晶片測試,可支持的晶片尺寸從3x3 mm到45x45 mm。亦可加選遠(yuǎn)端監(jiān)控功能,操作者得以在任何地點透過網(wǎng)路操作以增加設(shè)備使用率.3110-FT三溫 測試分類機同時包含預(yù)溫區(qū),可改善測試時間及產(chǎn)出;配有2個自動分料盤及2個手動分料盤,在僅1.4平方米的空間發(fā)揮蕞佳的IC分料能力以節(jié)省成本與時間。
整合色度混合型冰水機與TEC致冷晶片溫度控制器后,3110-FT可于進行測試三溫測試時,同時控制殼溫及接面溫度。
3110-FT可支援大部分產(chǎn)業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)通信介面以及提供不同種類測試設(shè)備的對接方式。可精準(zhǔn)控制溫度范圍從-40℃到125℃。具有易于操作的軟體介面以及可快速更換待測產(chǎn)品之設(shè)計。將可大幅縮短停機時間而進一步提高使用效率及產(chǎn)能。
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Model | Description | 詢價 |
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3110-FT | 三溫測試分類機 |
致茂Chroma 3110-FT 三溫測試分類機