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致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊

產品簡介

致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊
相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排
Date rate蕞高為100MHz
8個per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道
可擴充至64 pin
32M sequence command 內存
17種以上的pattern sequence 指令
Per-pin 控制架構

產品型號:36010
更新時間:2024-11-29
廠商性質:代理商
訪問量:993
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品牌Chroma/致茂產地類別國產
應用領域電子

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致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊

主要特色:

  • 相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排
  • Date rate蕞為100MHz
  • 8個per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道
  • 可擴充至64 pin
  • 32M sequence command 內存
  • 17種以上的pattern sequence 指令
  • Per-pin 控制架構
  • 每一腳位有 32M vector 內存
  • 每一腳位有 32 組 clock 及 waveform
  • 可快速切換 Waveforms 種類
  • 可編寫的tri-level driver, 分辨率達 610uV
  • 每個模塊皆具備高電壓驅動器
  • Per-channel PMU
  • Per-channel 時間量測組件
  • 支持 scan pattern 功能
  • Windows 2000/XP 操作系統
  • 支援 LabView 與 LabWindows
  • 可選購軟件 CRISP

應用范圍

  • Logic and mixed signal validation and test
  • Digital pattern generator and vector capture
  • Consumer IC and electronics test
  • Logic test subsystem for DC and RF ATE

36010 可程控 100MHz 邏輯腳位模塊,可用于特性分析、驗證以及數字 / 混合訊號 IC或電子組件測試。每個模塊包含一組Sequence Pattern Generator以及8個I/O雙向控制通道。36010多可擴充達64組通道以符合不同用途,此外,基于per-pin的架構, 每個通道皆配有32M的vector memory、32組clock、32組waveform與1個 PMU channel,與其他類似性能的 ATE 設備相比, 36010 可提供快速且精確的測試功能。

Sequence Pattern Generator 
36010 可程控邏輯腳位模塊提供17種以上的 sequence 指令,包括 jump、match、 loop、 repeat等,可以控制pattern的執行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 內存,允許每行 vector 擁有獨立的sequence command 來控制 pattern的執行流程。此外, 每個Sequence Pattern Generator 可以支持多8個Logic Pin Electronics Cards, 即表示多可支持64 個I/O channels 與8個 DUT同時測試。

邏輯腳位模塊 
每張邏輯腳位卡皆采用 Chroma® PINF ICs 來達到高精準的timing及彈性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32組clock,包含6個可編輯的edges。至于 per-pin waveform generator則可提供每組I/O雙向控制通道 32 組可編輯的 waveform,具有快速切換的特性。在 analog的功能中,邏輯腳位模塊具有tri-level的 driver 與 comparator,可編寫分辨率達610uV, 36010 同時配有 active load、per-pin PMU 以及高電壓驅動功能。另外,36010 也支持scan pattern 功能,可進行掃描測試。

軟件 CRISP(Chroma Integrated Software Platform) 
除了支持 LabView 與 LabWindows 環境之外, Chroma® 也提供了軟件CRISP作為選擇。為了涵蓋各種IC debugging的需求,CRISP包含許多軟件模塊,CRISP的作業平臺為Microsoft Windows XP®,使用 C++ 作為測試程序語言,提供用戶簡易、彈性化以及快速的圖形化接口軟件來符合各種需求。Project IDE tool 可以讓測試程序的產生更為簡單與快速;在 test program debugging 的場合,CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 軟件工具,包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具給使用者。

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ModelDescription詢價
36010可程控邏輯腳位模塊 
A360100Sequence Pattern 產生器 
A360101載板治具 
A360102250W/48V 電源供應器

致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊

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